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CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。 它與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試 。
CGO-4高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 77K-675K（液氮）； 超高溫度分辨率； 低溫具有*穩(wěn)定性
CT-6非真空高低溫探針臺(tái)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜
CINDBEST CJ-4高溫測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 ； 可滿足500度高溫測(cè)試 ； 溫度穩(wěn)定性高 ；兼容IV/CV/RF測(cè)試
CW-4 IGBT高壓大電流測(cè)試探針臺(tái)大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 ； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用
CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ； 可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
CINDBEST CH-8|8~12“ 探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ； 可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測(cè)試探針臺(tái)CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng) ； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用
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